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      產(chǎn)品詳情
      • 產(chǎn)品名稱:CHOTEST白光干涉儀3D表面輪廓儀

      • 產(chǎn)品型號:SuperViewW1
      • 產(chǎn)品廠商:CHOTEST
      • 產(chǎn)品價格:0
      • 折扣價格:0
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      簡單介紹:
      CHOTEST白光干涉儀3D表面輪廓儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。
      詳情介紹:

      產(chǎn)品功能
      1)設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;
      2)測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調(diào)亮度等自動化輔助功能;
      3)測量中提供自動拼接測量、定位自動多區(qū)域測量功能;
      4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能;
      5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;
      6)分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。

      結(jié)果組成
      1、三維表面結(jié)構(gòu):粗糙度,波紋度,表面結(jié)構(gòu),缺陷分析,晶粒分析等;
      2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖,輪廓線等;
      3、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面;
      4、薄膜和厚膜的臺階高度測量;
      5、劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量;
      6、微電子表面分析和MEMS表征。

      形貌儀主要應(yīng)用領(lǐng)域
      1、用于太陽能電池測量;
      2、用于半導(dǎo)體晶圓測量;
      3、用于鍍膜玻璃的平整度(Flatness)測量;
      4、用于機械部件的計量;
      5、用于塑料,金屬和其他復(fù)合型材料工件的測量。

       

      中圖W1光學(xué)3D輪廓儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。


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